| 제품 | 제품소개 | 바로가기 |
|---|---|---|
|
XRF RoHS Analyzer(EDX-LE)
|
목록보기 |
EDX-LE
XRF RoHS Analyzer(EDX-LE)
제품 용도
RoHS/ELV대응 형광 X-선 분석장치
자동 calibration, 분석조건 자동 선택, 자동 report 완성 기능 등 작업자의 편의성을 최우선으로 한 screening 장비
제품 특징
- 1. RoHS / ELV 대상 원소 이외의 식별 분석과 정량 분석이 가능
- 2. 분석 목적에 따른 세부 분석 조건 및 분석 조건을 만들 수 있음
- 3. 박막 FP 법을 이용한 다층막의 두께 및 조성, 부착량 분석이 가능
- 4. 매칭 기능을 이용한 강종 판별 및 품종 판별이 가능
제품 사양
| 측정원소 | Pb, Cd,Cr,Hg,Br,CI,Sb,Sn,S(9대원소) |
|---|---|
| 검출견제 | Cd ≤ 2ppm, Pb ≤ 2ppm, Hg≤ 2ppm, Br≤ 2ppm, |
| 분석시간 | 10 ~ 200초 (RoHs분석 추천 시간20초) |
| 시료종류 | 고체,액체,분말 |
| CCD | 조사 X축과 동축 |
| Filter | 4 modes automatically switched |
| Irradiation Area | Round 1mm and 5mm |
| Detector | Si Semiconductor Detector(no Liquid nitrogen required) |
| X-ray Generating System | Tube Voltage - 50KV / Tube Current-1mA |
